技術(shù)文章
Technical articles雙波段發(fā)射率測(cè)量?jī)x型號(hào):IR-2
可在航天航空紅外隱身、紅外烘烤、建材、造紙、紡織等行業(yè)用于對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。
發(fā)射率是材料熱物性的基本參數(shù)之一。新型發(fā)射率測(cè)量?jī)x是采用反射率法的測(cè)試原理,即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率,進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率的。它能測(cè)量常溫樣品在3μm-5μm,8μm-14μm和1μm-22μm三個(gè)波段的發(fā)射率。當(dāng)有特殊需要時(shí),它可通過(guò)**用的控溫裝置在-100℃~600℃任何溫度范圍內(nèi)加熱或冷卻樣品,從而對(duì)樣品進(jìn)行發(fā)射率變溫測(cè)量。
特點(diǎn):
1.儀器中裝有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源和六位高精度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mK)不僅使它具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍,而且還**大地提高了其在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用**特的光學(xué)調(diào)制技術(shù),測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.為了確保儀器的測(cè)量精度,在儀器設(shè)計(jì)中,考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差,除鏡反射(MR)探通道外,還增設(shè)了**門(mén)的漫反射(DR)補(bǔ)償通道。
4.在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù),較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè),進(jìn)一步提高了儀器性能。
5.操作簡(jiǎn)單,使用方便,測(cè)量速度快。
6.可按需更換濾光片,在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
7.在測(cè)量過(guò)程是不會(huì)損傷被測(cè)樣品。
8.帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要技術(shù)指標(biāo):
1.測(cè)量波段3~5μm,8~14μm、1~22μm(若用戶(hù)有特殊要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測(cè)量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02(ε>0.50)
5.重復(fù)性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(-100℃~600℃)
7.樣品尺寸:直徑≥50mm
8.測(cè)量時(shí)間:3秒
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電源:交流22V 50Hz